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YLS-A高精度玉米叶绿素仪

YLS-A高精度玉米叶绿素仪可以快速、准确、方便的测量出活体作物叶片的叶绿素含量，不需要采摘叶片，不影响作物正常生长。

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DDZ抗倒伏测定仪

DDZ抗倒伏测定仪通过配置的探针、拉钩、压板等附件来测量农作物的茎秆强度及抗倒伏能力。

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泛胜ZWS-1植物水势测定仪

泛胜ZWS-1植物水势测定仪，是用于测定植物水分状况和它的组成成分及压去木质部位导管汁液提供成分分析用的一种分析仪器。

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泛胜DDY茎秆强度仪

泛胜DDY茎秆强度仪采用针刺、压碎、折断三种不同探头分别测量茎秆穿刺，压碎、和弯曲强度，茎秆断裂或者屈服瞬间产生的最大力，即茎秆的强度。

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叶绿素测定仪

SPAD-2叶绿素测定仪根据叶绿素光谱吸收规律，采用两种不同的发光管照射叶片，通过测量透过叶片的光的强度计算出叶片内的叶绿素相对含量或者绿色程度。

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泛胜FS-PAR植物冠层测量仪

泛胜FS-PAR植物冠层测量仪可广泛应用于农业生产和农业科研，为进行冠层光能资源调查，测量植物冠层中光线的拦截，研究作物的生长发育、产量品质与光能利用间的关系，本仪器用于400nm－700nm波段内的光合有效辐射（PAR）测量、记录。

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DDY微电脑茎秆强度仪

DDY微电脑茎秆强度仪采用针刺、压碎、折断三种不同探头分别测量茎秆穿刺，压碎、和弯曲强度，茎秆断裂或者屈服瞬间产生的最大力，即茎秆的强度。

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YHD-1泛胜叶片厚度仪

YHD-1泛胜叶片厚度仪是一种专业测量叶片厚度的工具，可以精准的测量出叶片的厚度。

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LAM-A泛胜叶面积仪

LAM-A泛胜叶面积仪是一种使用方便、可以在野外工作的便携式仪器。可以精确、快速、无损伤地测量叶片的叶面积及相关参数，也可对采摘的植物叶片及其它片状物体进行面积测量。

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植物冠层测量仪

FS-PAR植物冠层测量仪可广泛应用于农业生产和农业科研，为进行冠层光能资源调查，测量植物冠层中光线的拦截，研究作物的生长发育、产量品质与光能利用间的关系，本仪器用于400nm－700nm波段内的光合有效辐射（PAR）测量、记录。

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